《材料X射线衍射基础与实践》根据“教育部高等学校材料类专业教学指导委员会规划教材”建设项目的要求，博采同类教材众长并结合编者多年教学和科研心得，从学生学习角度整合教材内容，教材深挖教学重点、剖析难点，不仅着眼于学生基础知识结构的构建，更注重学生思考能力的培养。
本书内容的安排如下：第1章绪论，阐述该课程在材料科学与工程专业课程体系中的定位，介绍衍射现象和衍射技术的发展历程；第2章讲解X射线的基础物理知识；第3章为材料晶体结构的描述方法，重点解释引入倒易空间描述晶体结构的科学性和意义；第4～

本书为工业和信息化部“十四五”规划教材，主要介绍晶体学基础与X射线在材料结构、形貌和成分方面的分析技术。其中，结构分析技术包括X射线的物理基础、衍射原理、物相分析、织构分析、小角散射与掠入射衍射分析、位错分析、层错分析、非晶分析、单晶体衍射与取向分析、内应力分析、点阵常数的测量与热处理分析等；形貌分析技术即三维X射线显微成像分析；成分分析技术包括特征X射线能谱、X射线光电子能谱及X射线荧光光谱等。书中研究和测试的材料主要包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料

本书系统讲解了晶体学基础知识、X射线衍射基本理论以及X射线衍射在晶体材料取向分析、应力分析、物相分析、织构分析等方面的应用。全书通过详细的图解对抽象的理论知识、重点和难点进行了详细讲解；对当代各种新技术、新方法做出了富有前瞻性的分析和介绍，力求帮助读者能够轻松愉快的学习。

本书内容分为四部分：（1）数据测量方法。介绍粉末X射线衍射实验设备、样品制备方法与技巧；（2）数据处理软件操作：讲解X射线衍射实验数据处理软件Jade的基本操作方法；（3）X射线衍射传统分析方法：物相定性分析、定量分析、结晶度、点阵常数精确测量、晶粒尺寸与微观应变、残余应力计算；（4）Rietveld全谱拟合精修方法：通过Jade的精修功能模块和Maud软件对Rietveld方法的原理、实验方法、数据处理方法及实验技巧进行详细讲解。

本书主要介绍了X射线晶体衍射的基本原理，晶体的培养与衍射数据的收集，晶体结构解析与精修的基本概念、结果的表达，有关的晶体学数据库和软件资源，结构解析的实际例子及常用软件的使用方法等。本书结合作者多年从事晶体结构分析所积累的经验，总结了结构解析过程中常见的问题与解决方法，并提供了**的有关文献资料。作者对*版进行增删、修改，旨在进一步提高理论基础的易读性和实用性，突出与实践密切相关的内容，对面探衍射仪的操作、数据处理等内容做了适当的增加，提供了更多有助于读者解决结构解析和精修过程中容易遇到问题的内

    要介绍一门技术，最合适的老师莫过于那些享有国际声誉的专家，他们或是建立相关理论，或是提供了广泛使用的工具。而这正是本书的最大优势——主编和作者们就是这样的一群专家。他们不仅阐释了技术的概念和诀窍，而且讨论了有关结果合理性的问题。本书在技术的筛选上提倡“重在实用，与时俱进”的原则，在内容的安排上讲究“阶梯”和“引路人”的效果，适合不同层次的、想运用粉末衍射技术来解决实际问题的读者。

　《中外物理学精品书系·前沿系列：晶体和准晶体的衍射（第2版）》在第一版基础上修订而成，全书共11章。