定 价:69 元
丛书名:
- 作者:刘斌
- 出版时间:2023/1/1
- ISBN:9787121448454
- 出 版 社:电子工业出版社
适用读者:本书面向在岗的芯片验证工程师,可作为日常桌边工作手册翻阅,也可用于工作之余查漏补缺以提高自身技术能力。
- 中图法分类:TN43-62
- 页码:240
- 纸张:
- 版次:01
- 开本:16开
- 字数:384(单位:千字)
资深芯片验证专家刘斌(路桑)围绕目前芯片功能验证的主流方法—动态仿真面临的日常问题展开分析和讨论。根据验证工程师在仿真工作中容易遇到的技术疑难点,本书内容在逻辑上分为 SystemVerilog疑难点、UVM 疑难点和 Testbench 疑难点三部分。作者精心收集了上百个问题,给出翔实的参考用例,指导读者解决实际问题。在这本实践性很强的书中,作者期望能够将作者与诸多工程师基于常见问题的交流进行总结,以易读易用的组织结构呈现给读者,目的是帮助芯片验证工程师更有效地处理技术疑难点,加快芯片验证的调试过程。
刘斌(路桑),毕业于西安交通大学微电子专业,瑞典皇家理工学院芯片设计专业硕士。拥有超过50,000名验证从业订阅者的路科验证创始人,主持国内前沿的芯片验证架构规划和方法学研究,担任过数款十亿门级通信芯片的验证经理,目前独立从事芯片验证技术咨询。同时在西安电子科技大学长期客座授课,以及开展芯片验证职业在线教育为业界输送大量人才。著有《芯片验证漫游指南》。可通过bin.liu@rockeric.com与作者取得联系。